研之成理首届 X 射线吸收精细结构谱 （XAFS）培训

背景介绍：同步辐射（synchrotron radiation）由于其具有从远红外到 X 光范围内的连续光谱、同时具备高强度、高度准直、高度极化、特性。可以作为理想探针来研究物质结构内部相互作用和化学环境探测。其中 X 射线吸收精细结构谱（XAFS）可以探测样品的局域结构，并具有元素选择性，适合各种形态的样品，易于结合多种原位实验条件等优点，使得 XAFS 成为同步辐射装置上使用人数众多、应用领域最广泛的实验技术之一，实验机时更是供不应求。为了帮助大家更好地掌握这门实验技术，本次培训将针对 XAFS 的基本原理、实验方法、样品制备、数据分析及应用等各个方面，进行全方位的详细介绍。培训内容介绍：本次培训主要分为三大部分：第一部分：国内同步辐射线站 ………………………………