论文信息:Zarko Sakotic. Alexander Ware. Michelle Povinelli. Daniel Wasserman, Perfect absorption at the ultimate thickness limit in planar films, physics.optics ,arXiv:2310.02811 (2023)论文链接:https://doi.org/10.48550/arXiv.2310.02811研究背景减小器件体积是先进纳米光子技术的关键要求之一,然而,这一要求往往与设计高吸收元件不一致,高吸收元件通常需要相当大的厚度,例如用于探测器和传感器应用。本文从理论上探讨了完全吸收谐振系统的厚度限制,并显示了平面薄膜中总光吸收的最小所需厚度的下限。本文所提出的分析方法得出了理想吸收体厚度与介电函数损失之间的简单关系,这也为确定现有和新兴材料在极限厚度极限下的吸收势提供了指导。所提出的结果为光-物质相互作用的极端提供了新的见解,并可以促进探测器和传感器系统超灵敏光吸收器的设计。研究内容 本文
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