每天一分钟，带你读遍机器人顶级会议文章标题：Model predictive control with obstacle avoidance for inertia actuated AFM probes inside a scanning electron microscope作者：S. Liang, M. Boudaoud, P . Morin, J. Cailliez, B. Cagneau, W. Rong and S. Régnier来源：2020 IEEE International Conference on Robotics and Automation (ICRA)编译：王春颖审核：柴毅，王靖淇这是泡泡一分钟推送的第 722 篇文章，欢迎个人转发朋友圈；其他机构或自媒体如需转载，后台留言申请授权摘要 原子力显微镜（AFM）是在微米和纳米尺度上进行3D成像和操作的可靠工具。当在扫描电子显微镜（SEM）中使用时，可以通过视觉反馈对AFM探针进行纳米分辨率定位和的控制。然而，实现轨迹控制和避开障碍仍然是操纵任务的主要关注点。我们提出了一种模型预测控
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