设备｜滨松研发Micro LED芯片快速检测设备，已开始对外销售

CINNO Research 产业资讯，日本光侦测器制造商浜松（Hamamatsu Photonics）研发了一款可快速检测晶圆上micro LED的外观、辉度、发光波长是否有异常的“MiNYTM  PL micro LED PL 检测设备 C15740-01”。采用光致发光测量技术（Photo Luminescence，以下简称为“PL”）来检测micro LED的异常问题，所用光致发光测量技术是基于滨松自主研发的成像模组（Imaging Module）和图像处理技术。MiNYTM PL系统在检测Micro LED芯片时能够快速判断芯片是否合格，这有利于提升显示用Micro LED产品的良率及Micro LED的研发效率。。此外，有望在未来的量产中有效地进行全数检车（全面检测）。自3月8日（星期一）起，开始向日本国内外的LED厂家、显示屏厂家销售此产品。注：PL测量法，即Photo Luminescence，通过图像显示光 ………………………………