“看透”热阻

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北京工业大学 可靠性物理研究室的研究团队自主研发出了TTE系列热阻测试仪，可将器件热阻的构成信息进行提取、放大，直观地展示在人们眼前，这相当于为人们添加了一副能够看透从芯片到散热器的“眼镜”，可以分辨出各部分的热阻或对温升的贡献。 作为当今高新技术的重要基本单元，基于半导体材料的微电子和光电子器件与人们的生活息息相关，无论是在航空航天领域的火箭、大飞机，还是日常生活中的智能手机、平板电脑中，人们都能够直接或间接地感受到它们所带来的便利。然而，很多人都遇到过电子产品过热而无法工作的问题，究其原因，是半导体器件工作时因温度升高而导致的可靠性下降。一般来说，温度每升高10摄氏度，器件的寿命会缩短为 ………………………………