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热像仪在电路板测试中的应用

MEMS  · 公众号  ·  · 2017-06-19 07:52
    

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电子设备的可靠性、寿命与温度紧密相关。电路板,尤其是功率电路的发热受设计、器件选型、散热设计、生产工艺等因素影响,需要大量测试与优化,以保证推向市场的产品性能稳定。 电路板相关企业遇到的主要共性问题: - 合理布置器件:大功率器件发热严重,合理布置这些器件能平衡热负载; - 发现过热器件:器件选型标号不匹配,长期过热工作,“短板效应”导致整个电路板提前失效; - 虚焊短焊:接触不良会引起莫名其妙的故障,增加售后成本; - 散热优化:定位热负荷区域,评估现有散热设计效果,制定优化改进措施; - 短路:设计大忌。 目前主要的解决方案及其不足: 热电偶 将热电偶接触到元器件上,通过多通道数采采集温度。采用这种方式 ………………………………

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