7月10日 南京：芯片测试线下技术交流

主要观点总结

此文章是关于NI测试测量技术研讨会南京站的介绍，包含大会基本信息、论坛议程、重磅展品和现场压轴大奖。

关键观点总结

关键观点1: 大会基本信息

大会将聚焦LabVIEW最新技术和全新框架，以及新产品介绍和应用方案展示。根据城市产业特点，与工程师和技术专家进行深入交流，探讨测试测量新技术发展和应用。

关键观点2: 论坛议程剧透

论坛包括LabVIEW+开源大模型实机演示、NI DataLink解决方案等多个部分，还有基于NI FPGA的机电作动器半物理仿真系统等重磅展品。

关键观点3: 重磅展品

展会上将展示基于NI FPGA的机电作动器半物理仿真系统、基于SDR的下一代频谱识别参考架构等多个解决方案和产品。

关键观点4: 现场压轴大奖

现场将进行抽奖活动，奖品包括Beats耳机、小米口袋打印机和小米桌上风扇等。