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▲第一作者：Jinzhen Huang 通讯作者： Jinzhen Huang ， Emiliana Fabbri 通讯单位： 瑞士保罗谢勒研究所 DOI ： 10.1038/s41557-025-01784-1 （点击文末「阅读原文」，直达链接） 研究背景 过渡金属氧化物在析氧反应条件下，其表面常会发生动态重构，从而形成活性态，且这种活性态会因电解质 pH 值的不同而有所差异。由此产生的催化活性对 pH 值的依赖性虽常见，但其背后的原理却尚未被深入理解。 研究问题 本文运用原位 X 射线吸收光谱技术，追踪了在不同 pH 值引导下的（氢）氧化物 / 电解质界面处钴氧化态的变化。结合原位电化学分析，本文揭示了钴的氧化还原动态、平带电位以及钴氧化态变化之间的关联，以解释析氧反应活性对 pH 值的依赖性。碱性环境提供了一个较低的平带电位，促使钴发生低电位的氧化还原转变，这有利于表面的重构。中性和酸性环境 ………………………………