Tessent DFT中的SSN概念

主要观点总结

本文介绍了集成电路（IC）设计领域面临的挑战，以及Tessent Streaming Scan Network（SSN）作为一种创新的片上系统（SoC）测试技术的诞生和发展。文章详细阐述了SSN的工作原理、技术优势及其在AI设计中的应用。最后，文章展望了SSN未来的发展趋势。

关键观点总结

关键观点1: 集成电路（IC）设计领域的挑战

随着芯片规模与复杂性的不断攀升，传统设计验证和制造测试方法面临高效、低成本的测试需求挑战。

关键观点2: Tessent Streaming Scan Network（SSN）技术的引入

SSN作为一种突破性的SoC测试技术，旨在克服传统DFT方法的局限性，为IC设计行业带来深远变革。

关键观点3: SSN的工作原理

SSN通过分组化的测试数据传输方式，实现高效、灵活的测试。其核心思想是将核心级测试需求与芯片级测试资源分离，简化测试规划，提高测试效率。

关键观点4: SSN的技术优势

SSN具有加速上市时间、降低测试成本、减少功耗配置文件、支持多种测试场景等技术优势。

关键观点5: SSN在AI设计中的应用

SSN特别适用于模块化、平铺和实例化的AI设计，确保复杂设计的可测性，帮助降低测试成本，提高测试覆盖率，加速产品上市时间。

关键观点6: SSN的未来发展

随着IC设计的不断演进，SSN技术将继续发挥重要作用，并可能在更高的带宽和更低的延迟、更广泛的工具集成、智能化测试策略等方面进一步发展。

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