资深专家揭秘精密测试关键技术（ADC/DAC测试、计量校准、三阶交调失真测试、本振替代、锁相环测试等...

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会议主题： 超低相噪精密测试应用关键技术大揭秘! 会议时间： 5 月8日 星期三 19:00-20:30 会议介绍 信号源对工程师来讲都不陌生，面对待测件高频、高速、高精度的特点，传统的信号源已经不能满足测试的要求，怎样帮助您快速精准测试呢？您希望拥有一个完全干净纯粹的信号源吗？您有了解过晶振级的微波源吗？中星联华携SLFS-Pro超低相噪微波信号源来袭，助力超纯净、超精密测试！ 精益求精，源为心动。本次直播将揭秘精密测试关键技术，详细讲解中星联华超低相噪微波信号源的6大核心特色，如何助力6大应用领域，将集中讲解 ADC/DAC 测试、计量校准、三阶交调失真测试、本振替代、锁相环测试、SLFS-Pro 信号源自动化编程 等内容，并进行现场demo演示，帮助工程师进行精准测试，解决尖端测试的苛刻要求，使测试更加精准。 关于超低相噪微 ………………………………