材料表征和原型制作: FIB-SEM 创新技术研讨会 | 报名进行中

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关于TESCAN   TESCAN 是 30 多年来电子显微镜创新的先驱，我们的研讨会系列将帮您探索电子显微镜的前沿技术。介绍新型, 先进的 AMBER X 2 和 AMBER 2 系统，展示 FIB-SEM 技术的改进。深入探讨改进的速度、精度、材料分析中的实用性、TEM 样品制备和纳米原型等主题。每场会议中都对这些先进系统的功能、应用和实际优势提供了宝贵的见解. 系列研讨会主题与时间   第一场： 新一代 FIB-SEM: 快速、实用、精确 2024年8月20日，下午3点（北京时间）   第二场： 重新定义 FIB-SEM: 体验三维多模态表征的速度、精度和实用性 2024年8月22日，下午3点（北京时间）   第三场： 材料研究中的高级 TEM 样品制备技术 2024年9月3日，下午3点（北京时间）   第四场： 纳米原型的实用性和精确性: 快速开发新型设备的途径  2024年9月5日， 下午3点（北京时间） 报名方式 扫描二维 ………………………………